资源&服务 |科技服务云超市 |
|
![]() |
首页 > 资源&服务 > 找技术 >详情 |
该装置采用了原始的LAUE X射线技术,以确保测量的快速性和必要的精度。该技术假设拍摄对象是静止的,晶体学轴的方向通常由软件在与操作员的“对话”中确定。一个月光图中的信息足以确定立方体晶体任何方向下所有晶体学轴的空间位置。竞争优势:(1)用于快速诊断单晶产品的专用设备,可控制;(2)主晶体晶体方向超过允许值的偏差;(3)单晶性(无晶石-相对于主晶粒的亚晶粒);(4)没有国内同类产品;(5)与国外同行相比;(6)诊断速度快,结果精度可比;(7)设计简单;(8)尺寸和重量更小,成本更低。
中文
/ENG
/PYC