资源&服务 |科技服务云超市 |
|
 |
首页 > 资源&服务 > 找技术 >详情 |
-
中文
/ -
ENG
/ -
PYC
/
中文
/ENG
/PYC
该技术提供了一种新的客观方法来量化超分辨率显微镜的有效分辨率，与其他现有方法不同，该方法可以在单个图像上工作，并能够在实时和后处理中优化图像参数。分辨率估计器依赖于对单个图像的去相关分析（见图a和b），而不需要任何用户定义的参数。这种新的分辨率估计为快速显微镜设置对齐、表征和优化以及自动化显微镜提供了强大的工具。该软件还可用于量化后处理软件的性能。
中文
/ENG
/PYC
商务合作
