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阿尔卡拉大学光子工程研究小组提出了一种方法和系统，通过比较脉冲光和瑞利散射产生的光的振幅和相位来表征光纤的色散曲线。本发明提供了高分辨率和灵敏度的表征，而无需借助被分析光纤的参考状态。
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