薄膜和粉末样品的可调温度和测量角度保持器

应用领域：先进制造与自动化

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国家/地区

西班牙

行业领域

先进制造与自动化

简介

西班牙国家研究委员会（CSIC）和加泰罗尼亚纳米科学与纳米技术研究所（ICN2-BIST）的研究人员最近开发了一种样品架，用于在荧光计或紫外-可见-近红外光谱仪中测量透射或反射模式下的薄膜或粉末样品。支架允许控制温度条件，并具有可调节的测量角度，用于调节光入射和/或光检测角度。该设备可定制，以适应不同商业品牌提供的仪器。正在寻求通过专利许可协议合作提供拉曼和发射分光光度计和设备（例如荧光、磷光、电致发光等）的公司。

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