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半导体老化是检测半导体器件早期故障的过程。这些设备在投入使用之前，会经受极端条件，如温度以及刺激电源或信号，以消除缺陷。
随着对半导体器件需求的增加，行业需要一种有效的方法来管理老化过程的容量和周转时间。在目前的方法中，半导体板通过轮轨或小车运输到老化测试设备。在测试设备上，操作员手动将单个半导体板从老化室转移到老化室进行测试。这种手动操作会导致操作员疲劳或受伤、设备损坏以及周转时间缓慢。
为了改进手动过程并消除缺点，开发了一种高效且易于自动化的系统，采用框架或小车设计，可直接进入老化室。这种设计消除了手动处理各个半导体板进出老化室的需要。系统设计和实现受授予的专利保护。
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